PCT老化試驗箱（又稱PCT高壓加速老化試驗機）可模擬半導體、PCB、IC、LCD等試品PCT測試所需嚴苛溫度、濕度及高氣壓綜合環(huán)境以驗證產(chǎn)品封裝耐壓性氣密性。
產(chǎn)品介紹
PCT高壓加速老化試驗箱（又名PCT老化試驗箱）是提高環(huán)境應力（如：溫度）與工作應力（施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等），加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間，主要是模擬氣候環(huán)境測試產(chǎn)品在不同溫度、濕度及壓力下密封性、氣密性的試驗設備。其廣泛應用于電子器件、汽車零配件、塑膠、線路板、IC、LCD、LED、磁鐵等行業(yè)。
PCT高壓加速老化試驗箱最主要是測試半導體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
依據(jù)試驗濕度飽和度可劃分為：飽和高壓加速老化試驗箱及非飽和高壓加速老化試驗箱
非飽和高壓加速老化試驗機試驗標準及方法：
MS IEC 60068-2-66-2008 環(huán)境試驗 第2-66部分-試驗方法 試驗Cx-穩(wěn)態(tài)濕熱(不飽和加壓蒸汽)
PCT高壓加速老化試驗箱應用領域：
航空航天 國防軍工 汽車機電 信息通訊 能源材料 行業(yè)定制
注：支持非標定制
