一些半導體芯片由于腐蝕而造成電源線路中斷，特別是在有振動的環(huán)境中，尤為嚴重。因此尤其需要對在船舶上或者是沿海區(qū)域所使用的半導體芯片進行鹽霧試驗是非常有必要的，接下來星拓環(huán)境將圍繞船舶半導體芯片詳細解說其鹽霧試驗的過程。
船舶半導體芯片鹽霧試驗過程
首先將試驗樣品進行預處理，按照規(guī)定承受彎曲應力的預處理，如果已經作為其他試驗進行過，則不需要重新進行彎曲；
然后將試驗樣品置于循環(huán)鹽霧試驗箱中，設置好所需要的溫濕度，調整噴霧量大小與鹽霧噴出角度；
選擇試驗時間：試驗時間a：24±2h；試驗時間b：48±4h；試驗時間c：96±4h；試驗時間d：240±8h；一般來說試驗時間需要根據(jù)用戶試樣的要求選擇合適的，若無規(guī)定則可選取試驗時間a。
船舶半導體芯片鹽霧試驗結果
試驗結束后，如果出現(xiàn)以下結果，則判定為失效：
在室內正常照明下，放大1倍~3倍檢查，標識模糊；
腐蝕缺陷面積超過任何封裝零件（例如蓋板、引線或外殼）鍍層金屬面積的 5%；引線缺損、斷裂；放大 10～20 倍檢查，完全貫穿零件的腐蝕。
以上就是船舶半導體芯片鹽霧試驗的過程詳解以此來確定其耐腐蝕的能力。星拓環(huán)境是一家全力打造技術先進、質量過硬、服務優(yōu)質、合作共贏的高新技術生產企業(yè)，多次承擔大型企業(yè)事業(yè)單位的檢測研發(fā)課題、為各大質檢科研單位及大型企業(yè)事業(yè)單位提供一站式服務和檢測試驗設備，若有任何鹽霧試驗箱相關需求，可隨時聯(lián)系廣東星拓環(huán)境試驗設備廠家進行咨詢，星拓工程團隊可為您提供一對一專業(yè)的技術咨詢與指導，期待與您并肩合作。
