恒溫恒濕試驗(yàn)箱 用于檢驗(yàn)電子產(chǎn)品,材料、電工、儀器儀表等產(chǎn)品在高低溫或者濕熱環(huán)境下的各種性能指標(biāo)。
隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展,電子電工產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊,所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件,正確的選擇產(chǎn)品的環(huán)境保護(hù)措施,才能保證產(chǎn)品在儲(chǔ)存運(yùn)輸中免遭損壞,在使用過程中安全可靠。因此,對(duì)電子電工產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證其在生產(chǎn)、運(yùn)輸、使用等各個(gè)環(huán)節(jié)中都安全可靠。出廠前對(duì)電子電工產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗(yàn)是保證質(zhì)量所必不可少的重要環(huán)節(jié),因此環(huán)境試驗(yàn)條件、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)設(shè)備是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。
恒溫恒濕試驗(yàn)箱滿足以下各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn):
GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法。
GB-2423.2-89(IEC68-2-2)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法。
GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗(yàn)。
GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。
選擇恒溫恒濕試驗(yàn)箱,應(yīng)綜合考慮多方面因素。這里分享一些小經(jīng)驗(yàn),希望對(duì)你有所幫助。恒溫恒濕試驗(yàn)箱可分為“臺(tái)式”和“立式”,主要區(qū)別在于所能夠?qū)崿F(xiàn)的溫度與濕度不同,從而產(chǎn)生的溫度也會(huì)有所不同,立式的可以做常溫以下的低溫和干燥,臺(tái)式的只能做常溫以上的溫度和高濕。
1.醫(yī)藥行業(yè)(主要是做穩(wěn)定性試驗(yàn))
2.電子行業(yè)(主要是做模擬環(huán)境試驗(yàn))
恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱廣泛用于電工、電子、航天、航空、儀器儀表等行業(yè)的材料、零部件設(shè)備,模擬給定的環(huán)境條件下的行為性能作出評(píng)價(jià)。試驗(yàn)各種產(chǎn)品及材料耐熱,耐寒,耐高溫,耐濕性能。適合電子,光伏組件,電器,食品,車輛,金屬,化學(xué),建材等工廠,科研單位,院校之用。