三綜合試驗(yàn)箱，又稱(chēng)三綜合環(huán)境試驗(yàn)箱、溫濕振三綜合試驗(yàn)箱、振動(dòng)三綜合試驗(yàn)臺(tái)、溫度/濕度/振動(dòng)綜合應(yīng)力試驗(yàn)系統(tǒng)，可將溫度、濕度氣候應(yīng)力試驗(yàn)與振動(dòng)力學(xué)應(yīng)力試驗(yàn)集成一體。綜合環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)工作時(shí)，將溫度（高溫或低溫、溫度變化）應(yīng)力、濕度應(yīng)力、振動(dòng)應(yīng)力以及電應(yīng)力按規(guī)定的組合方式和周期性空間同時(shí)或分別施加到試驗(yàn)樣品上。
產(chǎn)品介紹
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法
1）GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2）GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
3）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
4）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
5）GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) (IEC 60068-2-78：2012, IDT)；
6）GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db 交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）(IEC 60068-2-30:2005, IDT)；
7）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
8）GJB 150.3-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；
9）GJB/T 150.4-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；
10）GJB/T 150.9-86 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第8部分 濕熱試驗(yàn)。
注：支持非標(biāo)定制
